Microscope Raman Confocal S&I
TriVista CRS
2. Unbeatable spectral resolution
3. Lowest frequency measurements up to 5 cm-1 or less
4. Variable excitation-wavelength experiments supported
5. Maximum flexibility and optional improvements
Functionality
- Triple spectrometer / spectrographs at different focal lengths
- TR 555 with focal length 3 x 500 mm
- TR 557 with 2 x 500 mm plus 750 mm focal length
- TR 777 with focal length 3 x 750 mm
- Wavelength range from deep UV to NIR (200 to 2000 nm)
- Up to 4 integrated laser systems and an additional input port for external lasers
- Double laser beam path for UV and VIS / NIR
- Fully automated software control, including
- Measurement-configuration control
- Alignment and calibration control
- High spectral resolution, i.e. <0.2 cm-1 FWHM at 633 nm
- Low frequency range up to +/- 10 cm-1 with Ultra Narrow notch filters
- High frequency range up to 9000 cm-1 (at 532 nm), useful for photoluminescence
- High spatial resolution less than 1 µm lateral and 2 µm axial
- Adaptable for external measurements
- Optional improvements:- Macro Raman
- Raman polarization measurements
- Temperature dependent on Raman measurements
- Point-to-point and fast motorized Raman mapping
- TERS and AFM-Raman mapping
- Laser safety class I
Spécifications
| Magnification | x20 ~ x150,000 (Effective :~ x80,000) |
|---|---|
| Accelerating Voltage | 1kV to 30kV |
| Electron Gun | Tungsten Filament(w) |
| Detector | SE Detector, BSE Detector, EDS |
| Stage |
X: 35mm (Motorized)，Y: 35mm (Motorized) T: 0 to 45° (Motorized)，R: 360° ，Z: 5 to 50mm(Manual) |
| Maximum Sample Size | 45mm (H)，60mm (Diameter) |
| Image Mode(pixel) |
· RDE (320x240), TV (640x480), Slow (800x600) · Photo (1280x960, 2560x1920, 5120x3840) |
| Frame Rate |
· RDE (MAX. 30 frames/sec) · TV (MAX. 10 frames/sec) · Slow (MAX. 2 frames/sec) |
| Vacuum System | Turbo Molecular Pump (Less than 3min) |
| Auto Functions | Auto Focus, Contrast, Brightness, |
| OS | · Windows7 |
EDS
| System Resolution | Mn K 133eV standard 129 eV premium |
|---|---|
| Chip Size | 30 mm² |
| Window | Si3N4 <100 nm thick |
| Cooling System | Peltier |
| Detection Range | Be to Am |
| X-ray Input | 1 Mcps/channel |
| Throughput (Stored Counts) | 300 kcps/channel |
| Peak To Background | 10,000 : 1 |
| Resolution Stability | 90% up to 200 kcps |
| eV/Channel | 10 eV/ch |
| Power Requirements |
· 5 W max - detector only · 10 W max - with DPP box |
| Input Voltage |
· 100 - 240 VAC. · 47 - 63 Hz |
Applications sur la microscopie
Électronique à balayage
_ Semi-conducteurs et électronique
_ Chimie
_ Métaux
_ Énergie
_ Automobile
_ Avionique
_ Construction
_ Corps humain
_ Médicaments pharmaceutiques
_ Plantes et animaux
_ Microbiologie
_ Science de l'environnement
ioshsdioh
Microscope MEB de table, Solution complète MEB-EDS avancée
1. MEB-EDS tout en un
2. Interface utilisateur intuitive
3. Fonctions automatiques
- Support échantillon motorisé 3 axes (X, Y, T)
- Mise au point automatique, contraste,
luminosité, alignement du canon à électron
4. Taille maximum d'échantillon jusqu'à 60mm en diamètre et 45mm en hauteur
5. Grossissement de x20 à x150 000
6. Navigation facile avec le «Navigation Mode»
7. Contrôle précis avec un joystick et le «Driving Mode»
8. Détecteur BSE intégré et mode LV (Low Vacuum) disponible
AVANTAGES
- MEB haute résolution
- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
Microscope MEB de table,
Solution complète MEB-EDS avancée
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3. Fonctions automatiques
- Support échantillon motorisé 3 axes (X, Y, T)
- Mise au point automatique, contraste,
luminosité, alignement du canon à électron
4. Taille maximum d'échantillon jusqu'à 60mm en diamètre et 45mm en hauteur
5. Grossissement de x20 à x150 000
6. Navigation facile avec le «Navigation Mode»
7. Contrôle précis avec un joystick et le «Driving Mode»
8. Détecteur BSE intégré et mode LV (Low Vacuum) disponible
AVANTAGES
- MEB haute résolution
- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
AVANTAGES
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3. Fonctions automatiques
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- Mise au point automatique, contraste,
luminosité, alignement du canon à électron
4. Taille maximum d'échantillon jusqu'à 60mm en diamètre et 45mm en hauteur
5. Grossissement de x20 à x150 000
6. Navigation facile avec le «Navigation Mode»
7. Contrôle précis avec un joystick et le «Driving Mode»
8. Détecteur BSE intégré et mode LV (Low Vacuum) disponible
AVANTAGES
- MEB haute résolution
- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
AVANTAGES
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luminosité, alignement du canon à électron
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5. Grossissement de x20 à x150 000
6. Navigation facile avec le «Navigation Mode»
7. Contrôle précis avec un joystick et le «Driving Mode»
8. Détecteur BSE intégré et mode LV (Low Vacuum) disponible
AVANTAGES
- MEB haute résolution
- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
AVANTAGES
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7. Contrôle précis avec un joystick et le «Driving Mode»
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5. Grossissement de x20 à x150 000
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8. Détecteur BSE intégré et mode LV (Low Vacuum) disponible
AVANTAGES
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- Facile d'utilisation
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2. Interface utilisateur intuitive
3. Fonctions automatiques
- Support échantillon motorisé selon 3 axes (X, Y, T)
- Mise au point automatique, contraste, luminosité, alignement du canon à électron
4. Taille maximum d'échantillon jusqu'à 60mm en diamètre et 45mm en hauteur
5. Grossissement de x20 à x150 000
6. Navigation facile avec le «Navigation Mode»
7. Contrôle précis avec un joystick et le «Driving Mode»
8. Détecteur BSE intégré et mode LV (Low Vacuum) disponible
Applications
sur la microscopie
Électronique
à balayage
_ Semi-conducteurs et électronique
_ Chimie
_ Métaux
_ Énergie
_ Automobile
_ Avionique
_ Construction
_ Corps humain
_ Médicaments pharmaceutiques
_ Plantes et animaux
_ Microbiologie
_ Science de l'environnement
Les applications comprennent aussi bien le processus de défaut, l’analyse dimensionnelle, le processus de caractérisation, la rétro ingénierie que l’identification de particule... c’est pourquoi les domaines d’applications sont multiples et très larges :
APPLICATIONS 1
- MEB haute résolution
- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
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- EDS haute performance
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Applications
sur la microscopie
Électronique
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_ Semi-conducteurs et électronique
_ Chimie
_ Métaux
_ Énergie
_ Automobile
_ Avionique
_ Construction
_ Corps humain
_ Médicaments pharmaceutiques
_ Plantes et animaux
_ Microbiologie
_ Science de l'environnement
Les applications comprennent aussi bien le processus de défaut, l’analyse dimensionnelle, le processus de caractérisation, la rétro ingénierie que l’identification de particule... c’est pourquoi les domaines d’applications sont multiples et très larges :
APPLICATIONS 1
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jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
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Microscope MEB de table,
Solution complète MEB-EDS avancée
Microscope MEB de table,
Solution complète MEB-EDS avancée
Cross polisher Option MEB
Cross polisher Option MEB
Cross polisher Option MEB
Specifications
| Name 1 | |
|---|---|
| Mr. John Doe | Software Developer |
Specifications
| Name 1 | |
|---|---|
| Mr. John Doe | Software Developer |
Accessoires
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