• Skip to primary navigation
  • Skip to content

00 34 91 842 94 67

MENUMENU
  • Français
    • English
    • Español
Logo-sti
  • Analyse de Surface
    • Microscopes à Force Atomique
      • Nano-Observer
      • Modes électriques avancés
      • Environnements
      • Pointes AFM
      • AFM IR
    • Profilomètres Optiques
      • Profilomètres Optiques
      • Mesures Dynamiques
    • Profilomètres Mécaniques
    • Couches Minces
    • NanoIndenteurs
    • Systèmes Sous Vide
      • Systèmes de dépôt
      • Systèmes d’analyse
      • Accessoires et instruments UHV
    • Spectroscopie IR et Raman
      • Infra-Rouge
      • RAMAN
  • Prestations
  • Formations
  • SAV
  • Société
    • ScienTec
    • Évènements
    • News
  • Contact

Vous êtes ici : Accueil > Produits > Page 3

Réflectomètres Multi sites/ In-Situ

Réflectomètres Multi sites/ In-Situ F30 1. Améliore considérablement la productivité 2. meilleur rapport qualité/prix 3. Rapide et précis 4. Facile à utilisé 5. Système clé en main L’outil le plus puissant disponible pour surveiller le dépôt de couches minces Mesurez les taux de dépôt, l’épaisseur du film, les constantes optiques (n et k) et l’uniformité […]

Réflectomètres Cartographie Automatisée

Réflectomètres Cartographie Automatisée F30 1. Améliore considérablement la productivité 2. meilleur rapport qualité/prix 3. Rapide et précis 4. Facile à utilisé 5. Système clé en main L’outil le plus puissant disponible pour surveiller le dépôt de couches minces Mesurez les taux de dépôt, l’épaisseur du film, les constantes optiques (n et k) et l’uniformité des […]

Réflectomètres Adaptable sur microscope

Réflectomètres Adaptable sur microscope F30 1. Améliore considérablement la productivité 2. meilleur rapport qualité/prix 3. Rapide et précis 4. Facile à utilisé 5. Système clé en main L’outil le plus puissant disponible pour surveiller le dépôt de couches minces Mesurez les taux de dépôt, l’épaisseur du film, les constantes optiques (n et k) et l’uniformité […]

Mesure ponctuelle

Mesure ponctuelle F30 1. Améliore considérablement la productivité 2. meilleur rapport qualité/prix 3. Rapide et précis 4. Facile à utilisé 5. Système clé en main L’outil le plus puissant disponible pour surveiller le dépôt de couches minces Mesurez les taux de dépôt, l’épaisseur du film, les constantes optiques (n et k) et l’uniformité des semi-conducteurs […]

Nanoindenteur pour Haute température

Nanoindenteur pour Haute température InSEM HT 1. Propriétés mécaniques à haute température sous vide 2. Déformations en temps réel, 3. Compatible avec les chambres à microscope électronique à balayage (MEB) et à faisceau ionique focalisé (FIB), ou les chambres à vide autonomes Le système de test KLA InSEM® HT (haute température) permet de tester les […]

Nanoindenteur Ambiant & Sous Vide

Nanoindenteur Ambiant & Sous Vide InSEM HT 1. Propriétés mécaniques à haute température sous vide 2. Déformations en temps réel, 3. Compatible avec les chambres à microscope électronique à balayage (MEB) et à faisceau ionique focalisé (FIB), ou les chambres à vide autonomes Le système de test KLA InSEM® HT (haute température) permet de tester […]

Machine de Test Universel

Machine de Test Universel InSEM HT 1. Propriétés mécaniques à haute température sous vide 2. Déformations en temps réel, 3. Compatible avec les chambres à microscope électronique à balayage (MEB) et à faisceau ionique focalisé (FIB), ou les chambres à vide autonomes Le système de test KLA InSEM® HT (haute température) permet de tester les […]

Nanoindenteur jusqu’à 50 mN de force

Nanoindenteur jusqu’à 50 mN de force InSEM HT 1. Propriétés mécaniques à haute température sous vide 2. Déformations en temps réel, 3. Compatible avec les chambres à microscope électronique à balayage (MEB) et à faisceau ionique focalisé (FIB), ou les chambres à vide autonomes Le système de test KLA InSEM® HT (haute température) permet de […]

Nanoindenteur jusqu’à 1 N de force

Nanoindenteur jusqu’à 1 N de force InSEM HT 1. Propriétés mécaniques à haute température sous vide 2. Déformations en temps réel, 3. Compatible avec les chambres à microscope électronique à balayage (MEB) et à faisceau ionique focalisé (FIB), ou les chambres à vide autonomes Le système de test KLA InSEM® HT (haute température) permet de […]

Nanoindenteur à l’échelle nanométrique

Nanoindenteur à l’échelle nanométrique InSEM HT 1. Propriétés mécaniques à haute température sous vide 2. Déformations en temps réel, 3. Compatible avec les chambres à microscope électronique à balayage (MEB) et à faisceau ionique focalisé (FIB), ou les chambres à vide autonomes Le système de test KLA InSEM® HT (haute température) permet de tester les […]

Accessoires et instruments UHV

Accessoires et instruments UHV Large gamme de produits sur mesure 1. Instruments 2. Manipulateurs 3. Chambres 4. Porte-échantillons 5. Accessoires 6. Électronique PREVAC est un leader mondial dans la fabrication d’instruments de recherche scientifique UHV et d’investigation sur les propriétés chimiques et physiques de surfaces semi-conductrices, de couches minces et de nano-matériels. PREVAC conçoit aussi […]

Systèmes d’analyse

Systèmes d’analyse Famille de systèmes de dépôt 1. XPS 2. NAP-XPS 3. ARPES 4. FTIR 5. AFM 6. ISS 7. ARUPS 8. … PREVAC est un leader mondial dans la fabrication d’instruments de recherche scientifique UHV et d’investigation sur les propriétés chimiques et physiques de surfaces semi-conductrices, de couches minces et de nano-matériels. PREVAC conçoit […]

  • « Previous Page
  • Page 1
  • Page 2
  • Page 3
  • Page 4
  • Page 5
  • …
  • Page 7
  • Next Page »

NAVIGATION

- Surface analysis products

- Services

- Training

- After sales service

COMPANY

- ScienTec

- Contact

- News

FOLLOW US

Newsletter

- Newsletter

- Facebook

- Linkedin

Logo-sti-footer

00 34 91 842 94 67

info@scientec.es

© 2019 Scientec. All Rights Reserved.