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Vous êtes ici : Accueil > Análisis de superficie > Reflectometría (Medida de espesor de capa delgada)

Reflectometría (Medida de espesor de capa delgada)

 

Los sistemas de medición de reflectometría de película delgada permiten medir la reflectancia, el grosor y los índices ópticos de una o varias capas depositadas sobre una superficie de forma rápida y con alta precisión. Con el equipo Filmetrics / KLA, Scientec ofrece una amplia gama de soluciones de medición única / múltiple, en línea, adaptadas al microscopio o in situ.
Desde 1 nm hasta 10mm? Sin problema

Con un solo clic, puede medir y deducir el espectro de reflectancia del grosor de una película delgada analizando cómo la película refleja la luz. Al medir la luz no visible para el ojo humano, se pueden medir películas tan delgadas como 1 nm y tan gruesas como 13 mm ...

Spot measurement

F20

Configuración simple desde 10,000 €

F20/ F10/ F3 >

 

Medición de alto espesor hasta 15 mm

F70 >

 

 

 

 

 

 

 

Adaptable al microscopio

F40

Ideal para medir patrones o películas ultrafinas.

F40 >

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Mapeo automatizado

F50

Mapeo de espesores personalizables hasta 300mm

F50 >

Tamaño de punto fino - muestra de hasta 450 mm de diámetro - I + D. F54 >

 

Cubierta de protección acústica - Producción. F54-XY-200 >

 

Alta automatización - detección de muescas - interfaz SECS / GEM. F60 >

Multi-sitio /
in situ

Inline-monitoring-f30

Perfectamente adaptado a la metrología en producción.

F30 >

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

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