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Medición puntual: alto espesor

f70

F70

1. Diagnóstico en línea integrado
2. Software independiente incluido
3. Función de historial sofisticada para guardar, reproducir y trazar resultados

Los F70 son instrumentos de medición de espesores de uso general que pueden medir espesores de hasta 15 mm. Las aplicaciones comunes incluyen láminas de vidrio y plástico, lentes y recipientes y obleas semiconductoras.

El F70 básico está diseñado para medir materiales transparentes, mientras que el F70-NIR mide materiales semiconductores. El rango de espesor está determinado por las opciones de la lente y el software (consulte la hoja de datos para obtener más detalles).

El espesor se puede medir en menos de un segundo. Como todos los instrumentos de medición de espesor de Filmetrics, el F70 se conecta al puerto USB de su computadora con Windows ™ y se configura en minutos.

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Más información sobre aplicaciones

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- Espesor duro
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- ITO y otro TCO
- Equipo médico
- Espesor del metal
- microfluidos
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- Obleas y membranas de silicio
- Aplicaciones solares
- Laboratorios de enseñanza de semiconductores
- Rugosidad y acabado superficial

Mida el grosor de materiales transparentes hasta 15 mm de grosor

La medición de espesor con codificación de colores (CTM) es un método de medición sin contacto para materiales transparentes. Se pueden medir hasta dos capas simultáneamente. Las mediciones se toman de un solo lado de la muestra y son relativamente inmunes a la rugosidad, la falta de uniformidad y la curvatura.

CTM mide el espesor de una muestra detectando la distancia de las superficies superior e inferior de la muestra simultáneamente. Esto se logra mediante el uso de una lente que enfoca diferentes longitudes de onda (correspondientes a diferentes colores y, por lo tanto, dando a este método de medición su nombre) a diferentes distancias. Debido a que la longitud de onda que se refleja directamente depende de la distancia entre la lente y las superficies superior e inferior de la muestra, el espesor se puede calcular fácilmente en función de los dos picos del espectro de reflectancia (consulte la figura de la derecha).

Con conectividad USB y software sofisticado basado en Windows, el sistema se configura en minutos y los resultados están disponibles en segundos o menos.

F70-thin-film
F70-thin-film-reflectmeters

VENTAJAS

- Diagnóstico en línea integrado

- Software independiente incluido

- Función de historial sofisticada para guardar, reproducir y trazar resultados

Especificaciones

The F70 can measure different thickness ranges by using different lens assemblies.

Adding full spectral reflectance capabilities is possible as an upgrade:

Lens Assembly or Upgrade Kit Thickness Range (index=1.5) Accuracy 1 Precision 2 Working Distance Spot Size
LACTM-VIS-0.1mm 15 μm-0.15 mm 0.4 µm 0.05 µm 3.3 mm 10 µm
LACTM-VIS-0.3mm 30 μm-0.45 mm 0.7 µm 0.10 µm 4.5 mm 10 µm
LACTM-VIS-1mm 50 μm-1.5 mm 1.5 µm 0.20 µm 4.7 mm 10 µm
LACTM-VIS-2.4mm 150 μm-3.5 mm 2 µm 0.20 µm 13 mm 20 µm
LACTM-VIS-9mm 0.5 mm-15 mm 7 µm 2 µm 21 mm 50 µm
UPG-F70-SR-KIT 0.015 μm -40 μm 2 nm 0.1 nm 0-500 mm 1.5 mm 3

1 Material dependent. Typical value for midrange thickness.

2 Typical value, 1σ of repeated midrange measurements under unchanged conditions.

3 200µm with optional FO-SPL-PEG-SMA-100-1.3

Spectrometer
Wavelength Range:   380 – 1050 nm
Operating System
PC: Windows XP(SP2) - Windows 8(64-bit)
Mac: OS X Lion/Mountain Lion running Parallels
General
Sample Size:  From 1 mm to 300 mm diameter and up
Light Source: Regulated Tungsten-Halogen (LED optional)
Interface: USB 2.0
Power Requirements: 100-240 VAC, 50-60 Hz, 20W
Certifications: CE EMC and safety directives

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