Reflectómetros Adaptables al microscopio.
F40
1. Punto tan pequeño como 1 micrón
2. Conexión al microscopio simple.
3. Monitorización precisa del punto de medición.
4. Amplio rango de medición
La familia de productos F40 está diseñada para aplicaciones que requieren un tamaño de punto tan pequeño como 1 micrón. Para la mayoría de los microscopios, el F40 simplemente se conecta al adaptador Cmount, que es el estándar de la industria para montar cámaras de video.
El F40 viene con una cámara de video en color integrada que permite un monitoreo preciso del punto de medición del espesor de la película. El grosor y el índice se pueden medir en menos de un segundo. Al igual que todos nuestros instrumentos de medición de espesor de película de mesa, el F40 se conecta al puerto USB de su ordenador con Windows® y se instala en minutos.
Aplicaciones
- Fabricación de semiconductores
- Resina fotosensible
- Óxidos / nitruros
- Si y otras películas semiconductoras
- Mems
- fotorresistente
- Membranas de silicio
- Filtros de película delgada AIN / ZnO
- Dispositivos biomédicos
- Capas de polímero / parileno
- Espesor de pared de membrana / globo
- Recubrimiento farmacológico en implantes
- Pantalla de cristal líquido
- Deficiencias celulares
- Poliamida
- ITO
Más información sobre aplicaciones
- Amorfo y polisilicio
- dieléctrico - espesor duro
- Análisis de falla de IC
- ITO y otros TCO
- Equipamiento médico
- espesor del metal
- Microfluídica
- OLED
- Recubrimientos oftálmicos
- Recubrimientos de parileno
- Photoresist
- Silicio poroso
- Películas de tratamiento
- Índice de refracción & k
- Obleas y membranas de silicio
- Aplicaciones solares
- Laboratorios de enseñanza de semiconductores
- Rugosidad y acabado superficial
Ideal para medir películas ultrafinas.
Qué está incluido
- Espectrómetro integrado / fuente de luz
- Software FILMeasure 8
- Software independiente FILMeasure para análisis de datos remotos
- Adaptador de microscopio MA-Cmount con conexión Cmount
- Cable de conexión de fibra óptica
- Estándar de reflectancia BK7
- TS-Focus-SiO2-4-10000 estándar / espesor estándar
- BG-Microscope para tomar la base de referencia
Beneficios adicionales
- Biblioteca con más de 130 materiales incluidos con cada sistema, con acceso a otros 100
- Ingenieros de aplicaciones disponibles para asistencia inmediata las 24 horas (de lunes a viernes)
- Soporte en línea "Hands On"
- Programa de actualización de hardware
VENTAJAS
- Punto tan pequeño como 1 micrón
- Conexión al microscopio simple.
- Monitorización precisa del punto de medición.
- Amplio rango de medición
Accesorios
SS-Microscope-EXR-1
SS-Microscope-EXR-1
StageBase-XY10-Auto-100mm
NIST-traceable thickness standard
Multi-value thickness standard
Especificaciones
Model Specifications
| Model | Thickness Range* | Wavelength Range |
|---|---|---|
| F40 | 20nm - 40µm | 400-850nm |
| F40-UV | 4nm - 40µm | 190-1100nm |
| F40-EXR | 20nm - 150µm | 400-1700nm |
| F40-NIR | 100nm - 120µm | 950-1700nm |
| F40-UVX | 4nm - 120µm | 190-1700nm |
| F40-XT | 0.4µm - 250µm | 1440-1690nm |
*film stack dependent
Thickness Range*
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