Analyseur de couleur et puissance lumineuse Du visible au proche IR eFLAT-III : Jusqu’à 200 canaux via des modules en cascade 1. Multicanaux ultra compact 2. Options de communication (Ethernet / série et interface numérique) 3. Plage de mesure du visible jusqu’au proche infrarouge 4. Facilité d’utilisation 5. Sensibilité 35 à 3.300.000 Lux Les […]
Analyseur de couleur et puissance lumineuse LED et écrans eFLAT-III : Jusqu’à 200 canaux via des modules en cascade 1. Multicanaux ultra compact 2. Options de communication (Ethernet / série et interface numérique) 3. Plage de mesure du visible jusqu’au proche infrarouge 4. Facilité d’utilisation 5. Sensibilité 35 à 3.300.000 Lux Les systèmes eFLAT […]
Environnements AFM Toujours plus de possibilités avec le Nano-Observer AFM 1. Contrôle de l’environnement : Gaz, humidité 2. Milieu liquide : Pas d’ajustement supplémentaire 3. Contrôle de température : De -35°C à 250°C Microscopie AFM Nano-Observer : AFM meilleur rapport qualité/prix >> Modes électriques avancés : HD-KFM, ResiScope, sMIM >> Pointes AFM : Avec ou […]
Modes électriques avancés pour AFM Toujours plus de possibilités avec le Nano-Observer AFM 1. Contrôle de l’environnement : Gaz, humidité 2. Milieu liquide : Pas d’ajustement supplémentaire 3. Contrôle de température : De -35°C à 250°C Microscopie AFM Nano-Observer : AFM meilleur rapport qualité/prix >> Modes électriques avancés : HD-KFM, ResiScope, sMIM >> Pointes AFM […]
Pointes AFM Toujours plus de possibilités avec le Nano-Observer AFM 1. Contrôle de l’environnement : Gaz, humidité 2. Milieu liquide : Pas d’ajustement supplémentaire 3. Contrôle de température : De -35°C à 250°C Microscopie AFM Nano-Observer : AFM meilleur rapport qualité/prix >> Modes électriques avancés : HD-KFM, ResiScope, sMIM >> Besoin d’un conseil ? Contactez-nous […]
EDS : Mesure quantitative des éléments Oxford EDS – Ultim® Max EDS with AZtecLive La série Oxford Ultim® Max EDS d’Oxford Instruments est disponible en tailles de détecteurs de 40, 65, 100 ou 170 mm² pour le SEM CX-200plus complet utilisant la célèbre plateforme logicielle AZtecLive d’Oxford pour la micro-analyse élémentaire simple ou avancée. La plate-forme […]
Polisseur pour échantillon MEB CP-8000 1. Polisseur ionique 2. Préparation de types d’échantillons 3. Préserve les structures 4. Facile d’utilisation Le polisseur de section transversale pour broyeur à ions CP-8000 pour la préparation d’échantillons au MEB utilise un faisceau d’ions argon pour éliminer en douceur les matériaux de la surface d’un échantillon – littéralement des […]
Métalliseur pour échantillon MEB CP-8000 1. Polisseur ionique 2. Préparation de types d’échantillons 3. Préserve les structures 4. Facile d’utilisation Le polisseur de section transversale pour broyeur à ions CP-8000 pour la préparation d’échantillons au MEB utilise un faisceau d’ions argon pour éliminer en douceur les matériaux de la surface d’un échantillon – littéralement des […]
Microscopes électroniques à balayage standard CP-8000 1. Polisseur ionique 2. Préparation de types d’échantillons 3. Préserve les structures 4. Facile d’utilisation Le polisseur de section transversale pour broyeur à ions CP-8000 pour la préparation d’échantillons au MEB utilise un faisceau d’ions argon pour éliminer en douceur les matériaux de la surface d’un échantillon – littéralement […]
Microscopes électroniques à balayage de table CP-8000 1. Polisseur ionique 2. Préparation de types d’échantillons 3. Préserve les structures 4. Facile d’utilisation Le polisseur de section transversale pour broyeur à ions CP-8000 pour la préparation d’échantillons au MEB utilise un faisceau d’ions argon pour éliminer en douceur les matériaux de la surface d’un échantillon – […]
Microscope DHM – Science de la vie Specifications MEB Standard 1. Polisseur ionique 2. Préparation de types d’échantillons 3. Préserve les structures 4. Facile d’utilisation Le polisseur de section transversale pour broyeur à ions CP-8000 pour la préparation d’échantillons au MEB utilise un faisceau d’ions argon pour éliminer en douceur les matériaux de la surface […]
Microscope DHM – Science des matériaux Specifications MEB Standard 1. Polisseur ionique 2. Préparation de types d’échantillons 3. Préserve les structures 4. Facile d’utilisation Le polisseur de section transversale pour broyeur à ions CP-8000 pour la préparation d’échantillons au MEB utilise un faisceau d’ions argon pour éliminer en douceur les matériaux de la surface d’un […]