Microscope à Force Atomique meilleur rapport qualité/prix
Nano-Observer
1. Meilleur rapport qualité prix
2. Haute résolution et qualité de mesure
3. Modes électrique avancés, multiple modes et environnements
4. Facilité d'utilisation (logiciel, vues de coté et de dessus)
Le Nano-Observer est un microscope AFM compact et puissant avec un scanner tout en un (numérisations de grande taille et haute résolution dans un seul scanner). Outre les modes standard, vous pouvez disposer de modes avancés et de fonctionnalités uniques telles que le HD-KFM, le ResiScope, le MLFM… Le Nano-Observer est très flexible par sa compatibilité sur plusieurs environnements (gaz, contrôle de l'humidité, contrôle de la température ou mesures de liquides). Les grandes fenêtres optiques en font un outil idéal pour les installations ou les couplages optiques (éclairage Raman, IR, photovoltaïque…). Il peut être personnalisé (sur demande).
Microscopie AFM
Applications sur la microscopie à Force Atomique
Le microscope AFM Nano-Observer est utilisé pour des applications allant de la caractérisation de matériaux à des échantillons biologiques tels que des cellules vivantes... Ses modes avancés et ses différents environnements vous apportent un large panel d'applications.
- Chimie
- Revêtement / couches minces
- Sciences de la vie
- Science des matériaux
- Micro / Nanostructures
- Optique
- Polymères
- Semiconducteurs
Cobalt alloy coating, MFM mode, 30µm
Carbon Fibers in epoxy, Force modulation mode, 30µm
PZT, PFM mode, 10µm
OPV, ResiScope mode, 10µm
Spherulites, oscillating mode, 20µm
AU, Soft ResiScope mode, 5µm
Biomolecules, HD-KFM mode, 1µm
Plus d'info sur les Applications
Le microscope AFM Nano-Observer, une configuration complète
1. Facilité d'utilisation
- Vue de dessus et de côté
- Logiciel intuitif
- Commande à écran tactile
2. Haute résolution avec un grand scanner
- Laser et électronique à faible bruit
- Contrôleur 24bits
- Flexion stage breveté
3. Multiples modes
- Contact / Mode de friction et oscillation / Phase
- AFM conducteur
- PFM (Piezo-response)
- MFM / MLFM/ EFM
- Force de modulation
4. Modes électriques UNIQUES
- HD-KFM
Pas de lift : meilleures sensibilité et résolution
- ResiScope
Courant / résistance de 10^2 à 10^12 ohms
- Soft ResiScope
ResiScope pour échantillons délicats
- sMIM
permittivité et conductivité à l'échelle du nm
5. Environnements divers
- Atmosphère contrôlée (gaz, humidité)
- Température (-40 à 200°C)
- Liquide (pas d'ajustement nécessaire)
Les avantages du Nano-Observer
- Haute résolution et facilité d'utilisation
- Laser à faible bruit et système de pré-alignement
- Le nec plus ultra de la mesure électrique en AFM
- Plusieurs environnements (liquide, gaz, température)
- Abordable
- Evolutif
Specifications
Specifications
| XY scan range | |
|---|---|
| Z range | 10 μm (tolerance +/- 10%) |
| XY drive resolution | 24 bit control - 0.06 Angströms |
| Z drive resolution | 24 bit control - 0.006 Angströms |
| Ultra low noise HV | Typ : <0.01 mV RMS |
| 6 DAC Outputs | 6 D/A Converters – 24 bit (XYZ drive, bias, aux…) |
| 8 ADC Inputs | 8 A/D Converters – 16 bit |
| Data points | Up to 4096 |
| Integrated Lock-in |
Up to 6 MHz (software limited) 2nd lock-in (6 MHz-optional) |
| Interface | USB (2.0 - 3.0 compatible) |
| Controller Power | AC 100 – 240 V - 47-63 Hz |
| Operating System | Windows XP, 7, 8 or 10 |
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