• Aller à la navigation principale
  • Skip to content

00 34 91 842 94 67

MENUMENU
  • Français
    • English
    • Español
Logo-sti
  • Analyse de Surface
    • Microscopes à Force Atomique
      • Nano-Observer
      • Modes électriques avancés
      • Environnements
      • Pointes AFM
      • AFM IR
    • Profilomètres Optiques
      • Profilomètres Optiques
      • Mesures Dynamiques
    • Profilomètres Mécaniques
    • Couches Minces
    • NanoIndenteurs
    • Systèmes Sous Vide
      • Systèmes de dépôt
      • Systèmes d’analyse
      • Accessoires et instruments UHV
    • Spectroscopie IR et Raman
      • Infra-Rouge
      • RAMAN
  • Prestations
  • Formations
  • SAV
  • Société
    • ScienTec
    • News
    • Évènements
  • Contact

Vous êtes ici : Accueil > Produits > Microscope à Force Atomique meilleur rapport qualité/prix

Microscope à Force Atomique meilleur rapport qualité/prix

Nano-Observer

1. Meilleur rapport qualité prix
2. Haute résolution et qualité de mesure
3. Modes électrique avancés, multiple modes et environnements
4. Facilité d'utilisation (logiciel, vues de coté et de dessus)

Le Nano-Observer est un microscope AFM compact et puissant avec un scanner tout en un (numérisations de grande taille et haute résolution dans un seul scanner). Outre les modes standard, vous pouvez disposer de modes avancés et de fonctionnalités uniques telles que le HD-KFM, le ResiScope, le MLFM… Le Nano-Observer est très flexible par sa compatibilité sur plusieurs environnements (gaz, contrôle de l'humidité, contrôle de la température ou mesures de liquides). Les grandes fenêtres optiques en font un outil idéal pour les installations ou les couplages optiques (éclairage Raman, IR, photovoltaïque…). Il peut être personnalisé (sur demande).

 

Microscopie AFM

Microscope-afm-resiscope

ResiScope II : Courant/ Resistance sur 10 décades >>

Microscope-afm-hd-kfm

HD-KFM : High Definition Kelvin Force Microscopy >>

Microscope-afm-soft-resiscope

Soft ResiScope : ResiScope sur échantillons délicats >>

Fibroblastes embryonnaires, mode oscillant, 80 µm

Environnements : Liquide, température >>

Sram-grand-good-1

sMIM : Cartographie permittivité et conductivité  au nm >>

Pointe propre

Pointes AFM : Avec ou sans contact, électrique, spécifiques >>

Icon_Scientec-03

Besoin d'un conseil ?

Contactez-nous >>

Applications Caractéristiques Spécifications
Icon_Scientec-03

Envoyez-nous vos échantillons

Applications sur la microscopie à Force Atomique

Le microscope AFM Nano-Observer est utilisé pour des applications allant de la caractérisation de matériaux à des échantillons biologiques tels que des cellules vivantes...  Ses modes avancés et ses différents environnements vous apportent un large panel d'applications.

 

  • Chimie
  • Revêtement / couches minces
  • Sciences de la vie
  • Science des matériaux
  • Micro / Nanostructures
  • Optique
  • Polymères
  • Semiconducteurs
Afm-microscope-4

Cobalt alloy coating, MFM mode, 30µm

Afm-microscope-2

Carbon Fibers in epoxy, Force modulation mode, 30µm

PZT, PFM mode, 10µm

PZT, PFM mode, 10µm

OPV, ResiScope mode, 10µm

OPV, ResiScope mode, 10µm

Spherulites, oscillating mode, 20µm

Spherulites, oscillating mode, 20µm

AU, Soft ResiScope mode, 5µm

AU, Soft ResiScope mode, 5µm

Biomolecules, HD-KFM mode, 1µm

Biomolecules, HD-KFM mode, 1µm

Plus d'info sur les Applications

An.kfm
An.r
Soft resiscope application note
An-mfm-062018
An-sthm-062018

Note d'application AFM

Note d'application du HD-KFM >

Note d'application AFM

Note d'application du ResiScope >

Note d'application AFM

Note d'application du Soft ResiScope >

Note d'application AFM

Note d'application du MLFM >

Note d'application AFM

Note d'application du SThM >

Le microscope AFM Nano-Observer, une configuration complète

1. Facilité d'utilisation

- Vue de dessus et de côté
- Logiciel intuitif
- Commande à écran tactile

2. Haute résolution avec un grand scanner

- Laser et électronique à faible bruit
- Contrôleur 24bits
- Flexion stage breveté

3. Multiples modes

- Contact / Mode de friction et oscillation / Phase
- AFM conducteur
- PFM (Piezo-response)
- MFM / MLFM/ EFM
- Force de modulation

C36, oscillation mode, 250nm
C36, oscillation mode, 250nm

4. Modes électriques UNIQUES

- HD-KFM

Pas de lift : meilleures sensibilité et  résolution

- ResiScope

Courant / résistance de 10^2 à 10^12 ohms

- Soft ResiScope

ResiScope pour échantillons délicats

- sMIM
permittivité et conductivité à l'échelle du nm

5. Environnements divers

- Atmosphère contrôlée (gaz, humidité)
- Température (-40 à 200°C)
- Liquide (pas d'ajustement nécessaire)

 

ADN 800 nm
ADN 800 nm

Les avantages du Nano-Observer

- Haute résolution et facilité d'utilisation

 

- Laser à faible bruit et système de pré-alignement

 

- Le nec plus ultra de la mesure électrique en AFM

 

- Plusieurs environnements (liquide, gaz, température)

 

- Abordable

 

- Evolutif

 

 

 

 

 

 

 

 

Specifications

Specifications

XY scan range
Z range 10 μm (tolerance +/- 10%)
XY drive resolution 24 bit control - 0.06 Angströms
Z drive resolution 24 bit control - 0.006 Angströms
Ultra low noise HV Typ : <0.01 mV RMS
6 DAC Outputs 6 D/A Converters – 24 bit (XYZ drive, bias, aux…)
8 ADC Inputs 8 A/D Converters – 16 bit
Data points Up to 4096
Integrated Lock-in Up to 6 MHz (software limited)
2nd lock-in (6 MHz-optional)
Interface USB (2.0 - 3.0 compatible)
Controller Power AC 100 – 240 V - 47-63 Hz
Operating System Windows XP, 7, 8 or 10

Contactez-nous pour plus d'informations sur ce produit

Vous souhaitez un devis ?
Des informations complémentaires ?

Nous vous répondrons dans un délai de 24h

  • Hidden


NAVIGATION

- Surface analysis products

- Services

- Training

- After sales service

COMPANY

- ScienTec

- Contact

- News

FOLLOW US

Newsletter

- Newsletter

- Facebook

- Linkedin

Logo-sti-footer

00 34 91 842 94 67

info@scientec.es

© 2019 Scientec. All Rights Reserved.