• Skip to primary navigation
  • Skip to content

00 34 91 842 94 67

MENUMENU
  • English
    • Français
Logo-sti
  • Surface Analysis
    • Atomic Force Microscopes
      • Nano-Observer
      • Advanced electrical modes
      • Environments
      • AFM Probes
      • AFM IR
    • Optical profilometers
      • Optical profilometers
      • Dynamic measurements
    • Mechanical profilometers
    • Thin Films
      • Reflectometers and thickness measurement
      • Resistivity & conductivity mapping
    • NanoIndenters
    • Vacuum systems
      • Deposit systems
      • Analysis systems
      • UHV accessories and instruments
    • IR and Raman spectroscopy
      • AFM IR
      • Infrared
      • RAMAN
    • Plasma Cleaners
  • Services
  • Trainings
  • After Sales Service
  • Company
    • ScienTec Ibérica
    • Event
    • News
  • Contact

Vous êtes ici : Accueil > Produits > Simultaneous sub-µm IR and Raman microscopy

Simultaneous sub-µm IR and Raman microscopy

Simultaneous IR and Raman submicron microscopy

The world's first IR + Raman simultaneous microscopy system is a unique dual-mode platform that combines all the benefits of O-PTIR with complementary Raman microscopy through the simultaneous detection of the visible probe laser.

Spectra, line scans and 2D maps can now be collected in the same place at the same time, opening up new research possibilities and allowing more in-depth characterization of your sample.

Mirage-lasers-horizontal-illustration

IR spectroscopy

Spectroscopy-ir-mirage

mIRage : Submicron InfraRed Spectroscopy >

O-ptir

O-PTIR : Optical Photothermal Infrared spectroscopy >

Icon_Scientec-03

Need Help ?

Contact us >>

Specifications

Magnification x20 ~ x150,000 (Effective :~ x80,000)
Accelerating Voltage 1kV to 30kV
Electron Gun Tungsten Filament(w)
Detector SE Detector, BSE Detector, EDS
Stage X: 35mm (Motorized),Y: 35mm (Motorized)
T: 0 to 45° (Motorized),R: 360° ,Z: 5 to 50mm(Manual)
Maximum Sample Size 45mm (H),60mm (Diameter)
Image Mode(pixel) · RDE (320x240), TV (640x480), Slow (800x600)
· Photo (1280x960, 2560x1920, 5120x3840)
Frame Rate · RDE (MAX. 30 frames/sec)
· TV (MAX. 10 frames/sec)
· Slow (MAX. 2 frames/sec)
Vacuum System Turbo Molecular Pump (Less than 3min)
Auto Functions Auto Focus, Contrast, Brightness,
OS · Windows7

EDS

System Resolution Mn K 133eV standard 129 eV premium
Chip Size 30 mm²
Window Si3N4 <100 nm thick
Cooling System Peltier
Detection Range Be to Am
X-ray Input 1 Mcps/channel
Throughput (Stored Counts) 300 kcps/channel
Peak To Background 10,000 : 1
Resolution Stability 90% up to 200 kcps
eV/Channel 10 eV/ch
Power Requirements · 5 W max - detector only
· 10 W max - with DPP box
Input Voltage · 100 - 240 VAC.
· 47 - 63 Hz

Unlock new apps

IR + Raman analysis of red blood cells

Left: optical image with a selected area of 70 x 70 µm for subsequent Raman imaging (center). Right: IR + Raman spectra collected on a selected red blood cell (resolution ~ 500 nm).

Redbloodcells-irandraman

Applications sur la microscopie
Électronique à balayage

_ Semi-conducteurs et électronique
_ Chimie
_ Métaux
_ Énergie
_ Automobile
_ Avionique
_ Construction
_ Corps humain
_ Médicaments pharmaceutiques
_ Plantes et animaux
_ Microbiologie
_ Science de l'environnement

resultat3-microscope-electronique-balayage
resultat3-microscope-electronique-balayage

ioshsdioh

Submicron infrared spectroscopy in seconds

The new innovative mirage infrared microscope system provides infrared spectroscopy and submicron infrared imaging in a wide range of applications. Using an exclusive technique based on O-PTIR spectroscopy, candling exceeds the diffraction limit of traditional infrared spectroscopy and bridges the gap between conventional infrared microspectroscopy and infrared spectroscopy at the nanometric scale.

Fast, easy-to-use contactless optical technology

mIRage overcomes the limit of IR diffraction with an innovative technique, photothermal infrared optical spectroscopy (O-PTIR).
A tunable pulsed medium infrared laser induces photothermal effects on the surface of a sample, measured using a visible probe laser focused on the sample. Measurements are collected quickly and easily, without the need for contact-based techniques such as ATR spectroscopy.

Eliminates the need for thin layers

FTIR transmission quality spectrum in reflection mode
mIRage provides infrared spectroscopy and chemical imaging, regardless of the infrared wavelength. Using O-PTIR, highly sensitive IR measurements are enabled, allowing absorption of transmission quality without contact with the surface. This eliminates the need for thin samples and improves turnaround times.

Mirage-product
O-ptir
Bonesample-hyperspectrlimaging

Bone sample: Reflection mode IR Spectra and hyperspectral imaging 25 x 25 µm array, 500-nm spacing. Left: Single wavelength image (1058 cm-1) from Hyperspectral data set. Right: Single-pixel spectrum – 1s collection time

ADVANTAGES

- Sub-µm spatial resolution whatever the wavelength
- Simultaneous IR and RAMAN spectroscopies
- Quick and easy to use non-contact optical technique
- Eliminates the need for thin layers

Microscope MEB  de table,
Solution complète MEB-EDS avancée

1. MEB-EDS tout en un
2. Interface utilisateur intuitive
3. Fonctions automatiques
- Support échantillon motorisé  3 axes (X, Y, T)
- Mise au point automatique, contraste,
luminosité, alignement du canon à électron

4. Taille maximum d'échantillon jusqu'à 60mm en diamètre et 45mm en hauteur
5. Grossissement de x20 à x150 000
6. Navigation facile avec le «Navigation Mode»
7. Contrôle précis avec un joystick et le «Driving Mode»
8. Détecteur BSE intégré et mode LV (Low Vacuum) disponible

Meb-5

ADVANTAGES

- MEB haute résolution

- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000

- EDS haute performance

- Facile d'utilisation

ADVANTAGES

- MEB haute résolution

- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000

- EDS haute performance

- Facile d'utilisation

Microscope MEB  de table,
Solution complète MEB-EDS avancée

1. MEB-EDS tout en un
2. Interface utilisateur intuitive
3. Fonctions automatiques
- Support échantillon motorisé  3 axes (X, Y, T)
- Mise au point automatique, contraste,
luminosité, alignement du canon à électron

4. Taille maximum d'échantillon jusqu'à 60mm en diamètre et 45mm en hauteur
5. Grossissement de x20 à x150 000
6. Navigation facile avec le «Navigation Mode»
7. Contrôle précis avec un joystick et le «Driving Mode»
8. Détecteur BSE intégré et mode LV (Low Vacuum) disponible

Meb-5

ADVANTAGES

- MEB haute résolution

- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000

- EDS haute performance

- Facile d'utilisation

ADVANTAGES

- MEB haute résolution

- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000

- EDS haute performance

- Facile d'utilisation

Microscope MEB  de table,
Solution complète MEB-EDS avancée

1. MEB-EDS tout en un
2. Interface utilisateur intuitive
3. Fonctions automatiques
- Support échantillon motorisé  3 axes (X, Y, T)
- Mise au point automatique, contraste,
luminosité, alignement du canon à électron

4. Taille maximum d'échantillon jusqu'à 60mm en diamètre et 45mm en hauteur
5. Grossissement de x20 à x150 000
6. Navigation facile avec le «Navigation Mode»
7. Contrôle précis avec un joystick et le «Driving Mode»
8. Détecteur BSE intégré et mode LV (Low Vacuum) disponible

Meb-5

ADVANTAGES

- MEB haute résolution

- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000

- EDS haute performance

- Facile d'utilisation

ADVANTAGES

- MEB haute résolution

- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000

- EDS haute performance

- Facile d'utilisation

Microscope MEB  de table,
Solution complète MEB-EDS avancée

1. MEB-EDS tout en un
2. Interface utilisateur intuitive
3. Fonctions automatiques
- Support échantillon motorisé  3 axes (X, Y, T)
- Mise au point automatique, contraste,
luminosité, alignement du canon à électron

4. Taille maximum d'échantillon jusqu'à 60mm en diamètre et 45mm en hauteur
5. Grossissement de x20 à x150 000
6. Navigation facile avec le «Navigation Mode»
7. Contrôle précis avec un joystick et le «Driving Mode»
8. Détecteur BSE intégré et mode LV (Low Vacuum) disponible

Meb-5

ADVANTAGES

- MEB haute résolution

- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000

- EDS haute performance

- Facile d'utilisation

ADVANTAGES

- MEB haute résolution

- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000

- EDS haute performance

- Facile d'utilisation

Microscope MEB  de table,
Solution complète MEB-EDS avancée

1. MEB-EDS tout en un
2. Interface utilisateur intuitive
3. Fonctions automatiques
- Support échantillon motorisé  3 axes (X, Y, T)
- Mise au point automatique, contraste,
luminosité, alignement du canon à électron

4. Taille maximum d'échantillon jusqu'à 60mm en diamètre et 45mm en hauteur
5. Grossissement de x20 à x150 000
6. Navigation facile avec le «Navigation Mode»
7. Contrôle précis avec un joystick et le «Driving Mode»
8. Détecteur BSE intégré et mode LV (Low Vacuum) disponible

Meb-5

ADVANTAGES

- MEB haute résolution

- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000

- EDS haute performance

- Facile d'utilisation

ADVANTAGES

- MEB haute résolution

- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000

- EDS haute performance

- Facile d'utilisation

Microscope MEB  de table,
Solution complète MEB-EDS avancée

1. MEB-EDS tout en un
2. Interface utilisateur intuitive
3. Fonctions automatiques
- Support échantillon motorisé selon 3 axes (X, Y, T)
- Mise au point automatique, contraste, luminosité, alignement du canon à électron
4. Taille maximum d'échantillon jusqu'à 60mm en diamètre et 45mm en hauteur
5. Grossissement de x20 à x150 000
6. Navigation facile avec le «Navigation Mode»
7. Contrôle précis avec un joystick et le «Driving Mode»
8. Détecteur BSE intégré et mode LV (Low Vacuum) disponible

Meb-2

Applications
sur la microscopie
Électronique
à balayage

_ Semi-conducteurs et électronique
_ Chimie
_ Métaux
_ Énergie
_ Automobile
_ Avionique
_ Construction
_ Corps humain
_ Médicaments pharmaceutiques
_ Plantes et animaux
_ Microbiologie
_ Science de l'environnement

The applications include both the fault process, dimensional analysis, the characterization process, reverse engineering and particle identification ... this is why the fields of application are multiple and very broad:

Meb-6

Meb-1

Meb-2

Meb-1

Meb-4

APPLICATIONS 1

- MEB haute résolution

- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000

- EDS haute performance

- Facile d'utilisation

APPLICATIONS 1

- MEB haute résolution

- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000

- EDS haute performance

- Facile d'utilisation

Applications
sur la microscopie
Électronique
à balayage

_ Semi-conducteurs et électronique
_ Chimie
_ Métaux
_ Énergie
_ Automobile
_ Avionique
_ Construction
_ Corps humain
_ Médicaments pharmaceutiques
_ Plantes et animaux
_ Microbiologie
_ Science de l'environnement

The applications include both the fault process, dimensional analysis, the characterization process, reverse engineering and particle identification ... this is why the fields of application are multiple and very broad:

Meb-6

Meb-1

Meb-2

Meb-1

Meb-4

APPLICATIONS 1

- MEB haute résolution

- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000

- EDS haute performance

- Facile d'utilisation

APPLICATIONS 1

- MEB haute résolution

- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000

- EDS haute performance

- Facile d'utilisation

Microscope MEB  de table,
Solution complète MEB-EDS avancée

Microscope MEB  de table,
Solution complète MEB-EDS avancée

Cp-8000-450px

Cross polisher Option MEB

Le métalliseur Coxem SPT-20 offre une grande facilité d’utilisation via son interface digitale permettant d’adapter les paramètres à chacun de vos échantillons.

En savoir plus >

Cp-8000-450px

Cross polisher Option MEB

Le métalliseur Coxem SPT-20 offre une grande facilité d’utilisation via son interface digitale permettant d’adapter les paramètres à chacun de vos échantillons.

En savoir plus >

Cp-8000-450px

Cross polisher Option MEB

Le métalliseur Coxem SPT-20 offre une grande facilité d’utilisation via son interface digitale permettant d’adapter les paramètres à chacun de vos échantillons.

En savoir plus >

System specifications

IR Spectral range
Raman Spectral range 900-200 cm-1 (c)
IR mode ReflectionTransmission (d)
RAMAN mode Reflection
Probe laser(mIRage/Raman) 532 nm (e)
Stage minimum step size 100 nm
Stage x-y travel range 110x75 mm

Accessories

Contact us for more information on this technique

Would you like an estimatation ?
Additional information?
We will reply to you within 24 hours

  • This field is hidden when viewing the form


NAVIGATION

- Surface analysis products

- Services

- Training

- After sales service

COMPANY

- ScienTec

- Contact

- News

FOLLOW US

Newsletter

- Newsletter

- Facebook

- Linkedin

Logo-sti-footer

00 34 91 842 94 67

info@scientec.es

© 2019 Scientec Ibérica. All Rights Reserved.