Perfilómetro mecánico Muestras grandes FP Series 1. Muestras grandes de 200 a 500 mm. 2. Cabezas de medición KLA 3. Precisión vertical subnanométrica 4. Trazos largos de barrido 5. Reposicionamiento de alta reproducibilidad Toho Technology ofrece soluciones de metrología de superficie adecuadas para muestras grandes (de 200 a 500 mm). Usando cabezales de medición […]
Calibración de estándares: paso estándar FP Series 1. Muestras grandes de 200 a 500 mm. 2. Cabezas de medición KLA 3. Precisión vertical subnanométrica 4. Trazos largos de barrido 5. Reposicionamiento de alta reproducibilidad Perfilometría mecánica P17 : Perfilómetro mecánico para la industria >> P7 : Perfilómetro mecánico con la mejor relación calidad / […]
Sistemas de deposición Familia de sistemas de deposición 1. MBE 2. PLD 3. CVD 4. HIPIMS 5. Deposición por sputtering 6. Evaporación térmica 7. … PREVAC es líder mundial en la fabricación de instrumentos de investigación científica de UHV sobre las propiedades químicas y físicas de superficies de semiconductores, capas delgadas y nanomateriales. PREVAC también […]
Accesorios e instrumentos UHV Amplia gama de productos personalizados. 1. Instrumentos 2. Manipuladores 3. Cámara 4. Soporte de muestra 5. Accesorios 6. Electrónica PREVAC es líder mundial en la fabricación de instrumentos de investigación e investigación científica de UHV sobre las propiedades químicas y físicas de superficies de semiconductores, capas delgadas y nanomateriales. PREVAC también […]
Sistemas de análisis Familia de sistemas de deposición 1. MBE 2. PLD 3. CVD 4. HIPIMS 5. Deposición por sputtering 6. Evaporación térmica 7. … PREVAC es líder mundial en la fabricación de instrumentos de investigación científica de UHV sobre las propiedades químicas y físicas de superficies de semiconductores, capas delgadas y nanomateriales. PREVAC también […]
Perfilómetro para medición de estrés FP Series 1. Muestras grandes de 200 a 500 mm. 2. Cabezas de medición KLA 3. Precisión vertical subnanométrica 4. Trazos largos de barrido 5. Reposicionamiento de alta reproducibilidad Toho Technology ofrece soluciones de metrología de superficie adecuadas para muestras grandes (de 200 a 500 mm). Usando cabezales de […]
Perfilómetro óptico para I&D FP Series 1. Muestras grandes de 200 a 500 mm. 2. Cabezas de medición KLA 3. Precisión vertical subnanométrica 4. Trazos largos de barrido 5. Reposicionamiento de alta reproducibilidad Toho Technology ofrece soluciones de metrología de superficie adecuadas para muestras grandes (de 200 a 500 mm). Usando cabezales de medición […]
Perfilómetro óptico automatizado, muestra grande FP Series 1. Muestras grandes de 200 a 500 mm. 2. Cabezas de medición KLA 3. Precisión vertical subnanométrica 4. Trazos largos de barrido 5. Reposicionamiento de alta reproducibilidad Toho Technology ofrece soluciones de metrología de superficie adecuadas para muestras grandes (de 200 a 500 mm). Usando cabezales de […]
Perfilómetro óptico para I&D FP Series 1. Muestras grandes de 200 a 500 mm. 2. Cabezas de medición KLA 3. Precisión vertical subnanométrica 4. Trazos largos de barrido 5. Reposicionamiento de alta reproducibilidad Toho Technology ofrece soluciones de metrología de superficie adecuadas para muestras grandes (de 200 a 500 mm). Usando cabezales de medición […]
Perfilómetro óptico a la mejor calidad / precio FP Series 1. Muestras grandes de 200 a 500 mm. 2. Cabezas de medición KLA 3. Precisión vertical subnanométrica 4. Trazos largos de barrido 5. Reposicionamiento de alta reproducibilidad Toho Technology ofrece soluciones de metrología de superficie adecuadas para muestras grandes (de 200 a 500 mm). […]
Microscopio DHM – Ciencia de materiales FP Series 1. Muestras grandes de 200 a 500 mm. 2. Cabezas de medición KLA 3. Precisión vertical subnanométrica 4. Trazos largos de barrido 5. Reposicionamiento de alta reproducibilidad Toho Technology ofrece soluciones de metrología de superficie adecuadas para muestras grandes (de 200 a 500 mm). Usando cabezales […]
Microscopio DHM – Ciencias de la vida FP Series 1. Muestras grandes de 200 a 500 mm. 2. Cabezas de medición KLA 3. Precisión vertical subnanométrica 4. Trazos largos de barrido 5. Reposicionamiento de alta reproducibilidad Toho Technology ofrece soluciones de metrología de superficie adecuadas para muestras grandes (de 200 a 500 mm). Usando […]